Microscopio Electrónico de Barrido de Ultra-Alta Resolución JSM-7800F Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope (JEOL)
El JSM-7800F representa un gran paso en la tecnología de emisión de campo de microscopía electrónica de barrido, con resolución y estabilidad para escaneo y análisis. El más alto desempeño del FE-SEM de JEOL es posible por:

• Observación de las más finas estructuras morfológicas de nanomateriales a 1,000,000X de magnificación con resolución de menos de 1nm.
• Mayor área de colección de mapas EBSD a menor magnificaciones sin distorsión.
• Desempeño a bajo kV en escaneo y análisis de muestras altamente magnéticas.
• Imagen delgada, muestras de electrones transparentes con resolución de menos de 0.8 nm usando un detector retráctil STEM.

Microscopio Electrónico de Transmisión TEM JEM2010 FEG (JEOL)
El JEOL 2010 FE-TEM provee el escaneo TEM convencional y de alta resolución. Está equipado con una sola inclinación, doble inclinación, recipientes para muestras que se caliente ó enfríen para una amplia gama de experimentos de escaneo incluyendo filtrado de energía, holografía de electrones, etc. La pieza de lentes objetivas analíticas en este microscopio para muestras inclinadas arriba de 30 grados, aun manteniendo una resolución de punto a punto de 0.25 nm.

Microscopio Electrónico de Barrido SEM 5600LV (JEOL)
Este microscopio es usado para la observación de muestras en un amplio rango de magnificación arriba de 300,000x. El modo especial BV (bajo vacío) permite que especímenes no conductores (especialmente en muestras biológicas) puedan observarse en su estado original. El análisis elemental del espécimen es también posible usando unido al microscopio el espectrómetro de rayos X (EDS).

Microscopio Electrónico de Fuerza Atómica y de Tunelamiento JSPM-4210 (JEOL)
El desempeño del JSPM-4210 permite ser utilizado para diversas técnicas y mediciones:

• Resolución atómica (una imagen de átomos en modo de contacto).
• Resolución atómica STM (una imagen de átomos en HOPG) 0.05 nm o menos.
• Modos de medición: AFM modo contacto y AC modo intermitente.
• Para AFM modo contacto: Imagen topográfica, imagen de fuerzas, FFM, curva de fuerza, curva de fuerza de fricción, etc.
• Para AC modo intermitente: imagen topográfica, imagen de fase, imagen de amplitud.

Microscopio Óptico Axiotech 25HD (ZEISS)
Axiotech es un instrumento que permite la transmisión de luz para la observación de un materia ajustando accesorios que incluyen una lámpara de halógeno de 6 V-30 watts, un colector, un diafragma y un conector y un cable para una fuente de poder externa integrada. Este microscopio también permite la observación de luz reflejada en conjunto con una línea completa de objetivos Zeiss.

Laboratorio de Preparación de Muestras
Este laboratorio está enfocado en dar servicio de apoyo para preparación de muestras, de manera particular, para los materiales que serán analizados por cualquiera de las técnicas de microscopia del Laboratorio central. Se cuenta con varias técnicas de preparación (cortadoras, pulidoras, limpiador de plasma, evaporadoras, ultracentrífugas, etc.) y con la experiencia para trabajar muestras en el área de ciencia de materiales. Esta área también apoya en dar servicios a usuarios externos a través principalmente de capacitación para el procesamiento de sus propias muestras.

 Servicios
El LUCM ofrece servicios para apoyar distintas líneas de investigación. Los costos de los servicios que se ofrecen, así como el protocolo de contratación, especificaciones de las muestras y tiempos de entrega de resultados dependen del tipo de análisis, y se pueden obtener a través de la página web del laboratorio: http://laboratorios.fisica.unam.mx/home?id=12.

Análisis por SEM
Usando la técnica de microscopía electrónica SEM, se realizan análisis de materiales tales como cerámicas superconductoras, semiconductores, pequeñas partículas, aleaciones metálicas, vidrios metálicos, óxidos no estequiométricos, minerales, cristales moleculares, compuestos farmacéuticos, entre otros. Las técnicas disponibles son EDX y mapeos químicos.

Análisis por TEM
Usando la técnica de microscopía electrónica TEM, se realizan análisis de materiales tales como nanopartículas, aleaciones metálicas, vidrios metálicos, óxidos no estequiométricos, minerales, cristales moleculares, entre otros. Las técnicas disponibles son EDX, EELS, Contraste Z, Filtrado de Energía y Difracción.

Análisis AFM
Usando la técnica de AFM, se obtienen morfologías de la superficie de materiales. Las técnicas disponibles son AFM y STM.