Laboratorio de difracción de Rayos X

Pruebas analíticas para la caracterización de todo tipo de materiales:

Difracción de Rayos X

Análisis Cualitativo (Identificación de fases), Análisis Cuantitativo.
Refinamiento de estructuras.
Porcentaje de cristalinidad.
Análisis de películas delgadas; haz rasante
Caracterización y desarrollo de nuevos materiales
Análisis en condiciones no-ambientales (Alta temperatura, transformaciones de fase).

Difractómetro Rigaku Ultima IV

Determinación de la distribución de tamaño de nanopartículas y de nano o meso poros (SAXS).Determinación de tamaño de cristalito y microtensiones.
Análisis de arcillas.
Control de calidad de materias primas y productos finales.
Determinación de ingredientes activos en fármacos, pruebas de identidad.
Identificación de polimorfos

Fluorescencia de Rayos X, Espectrómetro de fluorescencia Bruker PUMA

Análisis semicuanlitativo y cuantitativo.
Es una de las mejores técnicas para realizar análisis elemental.
Detecta elementos desde el sodio (Na) hasta el Americio (Am).
Detecta concentraciones desde el 100% hasta una cuantificación de 2 PPM.

Laboratorio de Espectroscopia Óptica

Pruebas analíticas para el análisis comparativo de muestras para el control de calidad, el análisis de muestras orgánicas e inorgánicas y la investigación y desarrollo de nuevos productos:

Espectrometría de infrarrojo con transformada de Fourier (FT-IR) - Espectrómetro Thermo Scientific Nicolet 6700

Espectros de infrarrojo mediano para muestras sólidas, polvos, películas y líquidos, mediante el uso de Reflectancia Total Atenuada, Reflectancia Difusa y en la modalidad de Transmisión, para líquidos y pastillas de KBr, dependiendo de la presentación de la muestra.
Espectros de infrarrojo cercano únicamente para películas.

Espectrometría Raman dispersivo - Espectrómetro Bruker Senterra

Espectros Raman, para muestras sólidas, polvos, películas y líquidos, en la región de 80 a 3500 cm-1.

Laboratorio de Microscopía

Pruebas analíticas para la caracterización y estudio de una amplia gama de materiales: biológicos, cerámicos, poliméricos, híbridos compuestos y metales.

Microscopía electrónica de barrido de alta resolución - Equipo Hitachi SU8230

Imágenes de alta resolución de electrones secundarios y retrodispersos, a altos y bajos voltajes (HR-SEM).
Imágenes con electrones desacelerados para muestras sensibles al haz de electrones.
Resolución espacial de 1 nm
Posibilidad para que el usuario esté presente o conectado vía remota durante el análisis de sus muestras.
Cuenta con el detector de electrones transmitidos (STEM) para observar muestras en campo claro y campo obscuro.
Cuenta con un espectrómetro para microanálisis por espectroscopia de energía dispersada de rayos X (EDS), para caracterizar la composición elemental en una zona de la muestra amplificada de acuerdo con el objetivo del estudio, con la capacidad para realizar un mapeo elemental.

Microscopia electrónica de barrido - Equipo: Jeol 6060LV
Imágenes de electrones secundarios y retrodispersos, que proporcionan información topográfica de la muestra.

Microscopía óptica confocal - Equipo Zeiss modelo LSM 880

Reconstrucción de muestras obteniendo imágenes tridimensionales
Campo claro.
Contraste de interterencia diferencial (DIC).
Epifluorescencia.
Fluorescencia confocal de barrido laser (CLSM).